Powrót do listy produktów
Ostatnia aktualizacja: 2006-01-20
Sonda do pomiaru cienkich powłok metalicznych
- Producent:
- Impact
Mikroprocesorowa sonda służy do bezkontaktowego indukcyjnego pomiaru grubości napylanych cienkich warstw metali. Pomiar może odbywać sie z odległości do 15 mm, po zapewnieniu stałego dystansu a badana powierzchnią. Sygnał 4-20 mA odwzorowywuje grubość
napylonej warstwy. Skalowanie odbywa się za pomocą płytek z wzorcowymi warstwami napylonego metalu.
Pierwotnie sonda została zastosowana do pomiarów grubości aluminium napylanego na powierzchnię tafli szkła. Pomiar odbywa się po przez grubość szkła (10-15 mm). Sonda współpracuje z dowolnym wyświetlaczem o liniowym wejsciu 4-20 mA.
Pierwotnie sonda została zastosowana do pomiarów grubości aluminium napylanego na powierzchnię tafli szkła. Pomiar odbywa się po przez grubość szkła (10-15 mm). Sonda współpracuje z dowolnym wyświetlaczem o liniowym wejsciu 4-20 mA.
Porównaj ofertę z innymi dostawcami
To proste! Uzupełnij formularz i poznaj najlepsze oferty dostawców z branży automatyki przemysłowej.
Dystrybutor
IMPACT s.c. Automatyka Przemysłowa
- Adres: Aleje Niepodległości 177, 02-555 Warszawa
-
Nr telefonu: (0-22) 825-55-85
-
Faks: (0-22) 825-79-14
Przy kontakcie powołaj się na portal automatyka.pl
RSS