Komplet 100 MS/s kart PXI

NIWeek, 13 sierpień 2003 – National Instrument zaprezentowało dziś komplet 100 MS/s kart PXI, które zwiększają elastyczność i wydajność systemu do szybkiego modelowania i testowania urządzeń dla różnych sygnałów. Ten pakiet modułów ma dopasowane częstotliwości i możliwości oraz zawiera cztery nowe wbudowane przyrządy oparte na wspólnej architekturze sprzętowej. W pakiecie znajdują się:
· nowy 100 i 50 MHz cyfrowy generator/analizator (NI PXI-6552 oraz NI PXI-6551)
· nowy 100 MS/s, 16-bitowy generator arbitralny (NI PXI-5421)
· nowy 100 MS/s, 14-bitowy digitizer o wysokiej rozdzielczości (NI PXI-5122)
· 100 MHz generator częstotliwości (NI PXI-5404, zaprezentowany w lutym 2003)
· 500 MHz moduł przełączający (NI PXI-2593, zaprezentowany w lipcu 2003)
· moduł taktujący i synchronizujący (NI PXI-6653, dostępny od 4 kwartału 2003)
Nowe moduły w połączeniu z kartami PXI DC i RF są idealne dla zastosowań w obszarze elektroniki, komunikacji, półprzewodników, przemysłu zbrojeniowego, lotniczego oraz badań naukowych, w dziedzinach cyfrowego przetwarzania sygnałów, telekomunikacji, czy fizyki cząstek wysokoenergetycznych. Jak powiedział Ed Coleman (konsultant d/s sprzętu w Lexmark) „by utrzymać przewagę na rynku drukarek, używamy krótkich cykli czasowych na rynku i skupiamy się na zarządzaniu kosztami. Z 100 MS/s platformą testową pochodzącą od National Instruments, bardzo szybko stworzyliśmy w LabVIEW system testowy następnej generacji. Użyliśmy nowych narzędzi do równoczesnego zwiększenia szybkości prób oraz precyzji pomiarów naszych testerów pojemników na atrament o dużej pojemności, zachowując większość naszej istniejącej architektury programowej.”
Inżynierowie opisujący prototypy lub tworzący automatyczne systemy testujące mogą użyć tych modułów, by zachować niespotykaną elastyczność systemu, zdefiniować własne pomiary z procedurami analizy graficznego środowiska programowania NI LabVIEW 7 Express oraz nowym interaktywnym NI Digital Waveform Editor. Dzięki elastyczności programowego wykonywania pomiarów inżynierowie łatwo adaptują swoje systemy do nowych wymagań. Karty pomiarowe są także integrowane z programowymi narzędziami do symulacji pochodzącymi z innych firm, by zredukować czas tworzenia produktu, na przykład Digital Waveform Editor może zaimportować standardowe pliki VCD z popularnych pakietów symulacyjnych – cyfrowych oraz FPGA – dla testowego wykonania w LabVIEW, LabWindows lub innym środowisku programowania.
Oscyloskop wysokiej rozdzielczości, generator arbitralny oraz cyfrowy generator/analizator oparte są na nowej wspólnej dla różnych modułów architekturze NI Synchronization and Memory Core (SMC). SMC dostarczyło moduł taktowania i synchronizacji, transfer danych w rdzeniu i pamięci o dużej pojemności. Architektura modułu synchronizacji może zsynchronizować karty pomiarowe za pomocą wspólnego zegara lub sygnałów wyzwalających. Użyto FPGA by dostarczać generowane dane oraz poprawić działanie układów cyfrowych i analogowych karty. Inżynierowie mogą generować fale o złożonych kształtach oraz mierzyć szybkie sygnały w długim okresie czasu, dzięki dużej pojemności pamięci SMC, która może mieć aż 512 MB.
Vice dyrektor d/s badań i rozwoju Tim Dehne powiedział, „że ze znacznymi inwestycjami dla licznych zespołów R&D, NI stworzyło wspólną architekturę, by dostarczyć unikatowy i kompletny zestaw instrumentów dorównujących sobie częstotliwościami i możliwościami. Łatwa integracja kart pomiarowych daje inżynierom swobodę budowania systemów testujących, charakteryzujących się tym, iż mogą one być łatwo modyfikowane wraz z ich rosnącymi potrzebami.”
100 MS/s platforma testowa dla różnych sygnałów rozszerza możliwości pomiarowe inżynierów poprzez wysoką wydajność i możliwości przeprowadzanych pomiarów analogowych, cyfrowych i taktowania. 100 MS/s digitizer i generator arbitralny charakteryzują się małymi błędami przy zachowaniu dużej dynamiki zakresu pomiarowego. Generator arbitralny 5421 ma zakres dynamiki sygnału wolnego od zakłóceń na poziomie 91 dB. Oscyloskop wysokiej rozdzielczości odczytuje sygnały ze zwiększoną dokładnością – 64 razy większą rozdzielczością niż tradycyjne 8-bitowe karty – generator arbitralny o wysokiej rozdzielczości dostarcza precyzyjnie generowane standardowe i arbitralne sygnały. Cyfrowy generator/analizator zapewnia programowane napięcia w zakresie od -2 do 5,5 V z dokładnością do 10 mV dla urządzeń testujących różne napięcia oraz dla systemów sprawdzających zachowanie na zmieniające się warunki. Z tym cyfrowym generatorem/analizatorem inżynierowie mogą przenieść zależności między danymi do zegara znajdującego się na karcie, dla danych, dla których ważna jest relacja między opóźnieniami, które można ustawić i zapamiętać na karcie w czasie testu.