Powrót do listy produktów
Ostatnia aktualizacja: 2011-06-30
SFT-110 pomiar grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej
Urządzenia SFT, służące do pomiaru grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej produkowane są od 1978 r. Aparaty SII wykorzystywane są przez wiodących producentów w przemyśle motoryzacyjnym, elektronicznym oraz jubilerstwie. Model SFT-110 jest najnowszym urządzeniem z linii SFT. Szeroki wybór dostępnych opcji (różne kolimatory, stoliki, automatyczna regulacja odległości) oraz niska cena czynią SFT-110 bardzo ciekawą propozycją dla szerokiego grona klientów.
Istotne cechy SFT-110 to:
* pomiar do 5 powłok/do 10 pierwiastków
* pomiar od Ti do Bi
* analiza wzorcowa oraz bezwzorcowa
* lampa RTG: 50kV/1 mA
* kolimator o średnicy 0.1 mm oraz 0.2 mm (opcjonalnie dostępny kolimator 0.05mm x 0.4 mm)
* filtry: 1 jeden filtr + pozycja otwarta
* zakres ruchu stolika: 250 (X) x 200 (Y) mm
* mechanizm zapobiegający uderzaniu głowicy w próbkę
* 2 kamery CCD umożliwiające podgląd analizowanego obiektu (opcja)
* autofocus
* automatyczna regulacja odległości roboczej (opcja)
Istotne cechy SFT-110 to:
* pomiar do 5 powłok/do 10 pierwiastków
* pomiar od Ti do Bi
* analiza wzorcowa oraz bezwzorcowa
* lampa RTG: 50kV/1 mA
* kolimator o średnicy 0.1 mm oraz 0.2 mm (opcjonalnie dostępny kolimator 0.05mm x 0.4 mm)
* filtry: 1 jeden filtr + pozycja otwarta
* zakres ruchu stolika: 250 (X) x 200 (Y) mm
* mechanizm zapobiegający uderzaniu głowicy w próbkę
* 2 kamery CCD umożliwiające podgląd analizowanego obiektu (opcja)
* autofocus
* automatyczna regulacja odległości roboczej (opcja)
Dystrybutor
ANALITYK Ewa Kowalczyk
- Adres: ul. Eugeniusza Romera 10 lok. B9, 02-784 Warszawa
-
Nr telefonu: 022 855 59 37
-
Faks: 022 855 07 98
- E-mail: analityk@analityk.com
- WWW: www.analityk.com
Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl