Digitizer o zmiennej rozdzielczości dla PXI - uniwersalny przyrząd do dynamicznych pomiarów

Digitizer o zmiennej rozdzielczości dla PXI oferuje środowisku przemysłowemu największy zakres dynamiczny

Projektanci i inżynierowie mogą teraz używać pojedynczego modułowego instrumentu do wykonywania pomiarów dynamicznych w szerokim zakresie z nowym digitizerem o zmiennej rozdzielczości firmy National Instruments. Tak jak cyfrowy multimetr zapewnia uniwersalne możliwości pomiarowe dla pomiarów stałonapięciowych, tak digitizer NI PXI-5922 rewolucjonizuje dynamiczne pomiary z uniwersalnym przyrządem pomiarowym. Użytkownicy mogą połączyć moduł z NI LabVIEW 7.1, aby stworzyć wiele różnych przyrządów, jak woltomierz AC, analizator audio, miernik częstotliwości, analizator spektralny lub analizator modulacji I/Q, które często przewyższają wydajnością tradycyjne przyrządy o podobnej funkcjonalności.

Dr James Truchard (prezes National Instruments oraz CEO) powiedział, że „wirtualne przyrządy zmieniły podejście do budowy systemów pomiarowych i testujących. Digitizer NI PXI-5922 zmienia zasady budowy sprzętu dla wirtualnych instrumentów, przez dostarczenie urządzenia, którego funkcjonalność obejmuje wiele różnych aplikacji. Moduł ten zapewnia bezbłędne pomiary dla szerokiego zestawu aplikacji dla różnych digitizerów i kieruje nas do celu, jakim jest platforma uniwersalnych instrumentów pomiarowych.”

W przeciwieństwie do tradycyjnych przyrządów pomiarowych mających określoną rozdzielczość dla wszystkich częstotliwości próbkowania, digitizer NI PXI-5922 używa NI FlexII ADC, który posiada zmienną rozdzielczość i potrafi próbkować w rozdzielczości od 16 do 24 bitów przy 500 kS/s. NI FlexII ADC zawiera opatentowaną przez National Instruments metodę redukowania błędu liniowości i dryftu temperatury, właściwych dla przetworników sigma-delta, umożliwiając zachowanie niespotykanego zakresu dynamicznego dla wysokich częstotliwości próbkowania. Z tym modułem, zakresem pomiarowym i niskimi szumami, inżynierowie mogą bezpośrednio mierzyć małe sygnały, bez konieczności ich zewnętrznego dopasowywania za pomocą filtrów i wzmacniaczy. Wyeliminowanie kondycjonowania sygnału zwiększa dokładność pomiarów i ich wiarygodność, jak również oszczędza czas tworzenia systemu testowego.

Kombinacja elastyczności pomiarowej i dużego zakresu pomiarowego czyni moduł NI PXI-5922 idealnym dla szerokiego zakresu aplikacji. Z wydajnością przewyższającą najlepsze komercyjne ADC, inżynierowie mogą użyć ten moduł na przykład, aby charakteryzować i testować najnowsze układy DAC. Do precyzyjnych aplikacji audio, digitizer posiada niezrównane możliwości próbkowania sygnału z 24 bitową rozdzielczością przy częstotliwości do 500 kS/s, co daje inżynierom możliwość analizy wyższych harmonicznych. Moduł ten dla rozdzielczości 18 bitów próbkuje z częstotliwością 10 MS/s, czyniąc go doskonałym rozwiązaniem do próbkowania pasma podstawowego sygnałów I/Q, używanych w systemach komunikacji cyfrowej.

Moduł NI PXI-5922 zbudowany jest w oparciu o architekturę Synchronization and Memory Core (SMC) pozwalającą na ścisłą synchronizację z innymi produktami opartymi na SMC, jak szybkimi oscyloskopami, generatorami arbitralnymi i analizatorami/generatorami cyfrowych sygnałów. Daje to możliwość synchronizacji między modułami na poziomie 1 ns, dużą wbudowaną pamięć do 256 MB na kanał i szybkie przesyłanie danych. Inżynierowie mogą użyć ten moduł do stworzenia pomiarów odpowiedzi dla różnych sygnałów na stymulowane zadania lub rozszerzenia liczby kanałów pomiarowych do 1632 kanałów przez synchronizację wielu modułów NI PXI-5922.